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  • ZJHID鎮(zhèn)流器異常狀態(tài)試驗電阻柜
    ZJHID鎮(zhèn)流器異常狀態(tài)試驗電阻柜

    HID鎮(zhèn)流器異常狀態(tài)試驗電阻柜是按照標準要求而設計即滿足IEC60598-1:2008和GB 7000.1-2007版標準附錄C的圖C.3的HID整流效應試驗方法;模擬HID鎮(zhèn)流器在半波電流作用下安全性良好與否。

    更新時間:2020-08-18型號:ZJ瀏覽量:915
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